电池片光衰减试验箱、光衰减试验、pid测试系统一、设备结构：1、光衰实验箱整体大方，外形优美，双面留有散热口，充分利用恒温车间的环境散热降温，硅片光照后热源及少量遗留的灯照热源由风扇降温，保持硅片温度。2、产品整体为上下双层结构，每次可对30片单晶电池片做光衰。3、上层为射灯；下层为电池片垫板，镂空设计装有排风扇；4、正面立柱有控制开关，每7个灯一个开关可区域控制，设有时间控制器，底座装有滑轮方便移动。5、光源分布为2排，每排7只灯管，保证硅片光照的均匀和光照。68、本设备设有时间控制器，时间可设定。二、详细规格:1、整机外型尺寸1200*500*1500mm(长宽高）2、室内温度：25℃～45℃(pt100温度传感器)3、光衰灯源：满足硅片测试光衰用照射灯4、灯源数量：280只（上下2层，每层2排每排7只灯）5、灯距离片子的高度一般50cm，可电动微调三、保护系统1、整体设备欠相/逆相保护；2、漏电保护；3、故障报警后自动停机。4、短路保护；5、过电流保护二、设备使用条件1、环境温度：5℃～＋28℃；2、环境湿度：≤85%；3、电源要求：ac220（±10%）v/50hz4、预装容量：6kw。
thebattery light attenuation test box, light attenuation test, pid testsystem
one, equipment structure:
1, decay experiment box overall appearance, beautiful appearance, both sideshave vents, make fulluseof environmental heat constant temperatureworkshoptemperature, silicon light source and a small amountof remaining light heat from the coolingfan, keep the temperature of siliconwafer.
2, the overall product is a doubledeck structure, each can do light on 30 singlecells.
3, upper lamp; the lower battery plate, hollowdesign with exhaustfan;
4, the positive column with a controlswitch, each of the 7 lamp, a switch cancontrolarea, a time controller, a base is provided withapulley is convenient to move.
5, the distribution oflightsource for the 2 row, each row of 7 lamp, ensure thewafer illumination uniformity and illumination.
68, the device is provided with a timecontroller, time canbe set.
two, detail specification:
1, the machine dimensions (length and width andheight) 1200*500*1500mm
2, the indoor temperature: 25 ℃ ~ 45 ℃ (pt100 temperaturesensor)
3, light light source: meet the wafer test light with light
4, the number of light sources: 280 (upper and lower 2layers, each layer of 2 rows of 7lamps)
height 50cm 5, light from the film, electric trimmer
three, protection system
1, the overall equipment under phase/ reversephase protection;
2, leakage protection;
automaticshutdown, faultalarm after 3.
4, short circuit protection;
5, over current protection

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东莞市湘龙自动化设备有限公司
刘海
13649881864
清溪